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当机频传!iPhone 6 Plus将大召回?

2014-11-05 11:31:21 作者:郭美珍 来源:TechDaily 浏览次数:0 网友评论 0 | Share to

苹果iPhone 6 Plus除了弯曲门之外,现在还频传会莫名地当机,10月底传出用户安装700个apps应用程式后,就当机或一直重开机,业界研判与快闪记忆体的控制IC不稳定有关,韩国媒体认为苹果公司可能会展开大规模的召回行动。

也因此iPhone 6 Plus是目前受影响最大的机种,《Apple Insider》便报导,持续不明原因地当机或重开机,用户都很困扰,已有人连续换了4支i6+手机,论坛上网友纷指责苹果公司的软件及硬体都难辞其咎。

韩媒《Business Korea》引用财经网站《Business Insider》的报导,10月24日持有128GB的iPhone 6 Plus用户,推文抱怨手机死当等瑕疵,有人说3周以来饱受当机之苦,有人推文1天中重新开机超过两次,
询问推特上的朋友是否也遇到这种困扰。

显然可见iOS 8.1系统并未修复这些缺陷,使得iPhone 6 Plus的瑕疵尽现,《Business Korea》引述知情人士的说法,研判与TLC flash的控制IC不稳定有关,认为苹果公司可能会展开大规模的召回行动。

《Business Korea》指出,苹果公司为了降低成本,采用TLC NAND快闪记忆体存储空间,用于128GB的iPhone 6 Plus,但TLC读取资料的速度及稳定性,远不如MLC或SLC NAND。

该报导披露,有业内人士指出种种问题出自128GB iPhone 6 Plus内TLC NAND Flash的IC控制器。相比SLC NAND Flash及MLC NAND Flash快闪记忆体,TLC NAND Flash可以提供更大容量的储存空间,但读写速度会比后两者为慢。

出于成本考虑,苹果会使用TLC NAND Flash在iPhone 6 Plus及部分iPad型号,不过会于大部分iPhone型号上使用成本较高但速度较快的MLC NAND Flash。

说起TLC NAND Flash,三星的SSD 840 及840 EVO SSD硬碟都有使用,但同样于测试时被发现读写速度出问题,相信元凶也是TLC NAND Flash内的IC 控制器,导致三星需为硬碟提供新韧体解决问题。

如果这次iPhone 6 Plus都有同样问题,可能逃不过要大量召回入厂维修。

不过,由于苹果最大对手三星来自韩国,不少中台港网友质疑韩媒“抄作”iPhone 6 Plus将召回的新闻可靠性和动机。

作为韩国手机市场市占率最高的三星,面对对手苹果两款iPhone 6手机,推出机皇Galaxy Note 4迎战。但没想到出炉的预购结果,三星在自己家里的销量反而不如苹果。

苹果至今仍未对此发表声明,《TechDaily》将持续为读者追踪相关讯息。

 

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